| 日立u - 4100分光光度計
這個大樣本室u - 4100系統(tǒng)提供了各種光學和電子材料的非破壞性透過率/反射率測量，包括薄膜、透鏡、大尺寸玻璃、硅片、光學部件、新材料、液晶基板和太陽能電池，超出了太陽能電池組件的測量范圍。該系統(tǒng)是專為固體樣品的透射或反射測量。您可以構建一個非常適合于特定測量目標的系統(tǒng)，將系統(tǒng)與各種配件相結合，例如一個鏡面反射裝置。
?評估提供了巨大的靈活性和質(zhì)量控制的各種光學元件的波長范圍175 - 2600或175 - 3300 nm(選項)。
?可用/光柵或棱鏡光柵/光柵雙單色儀系統(tǒng)配置與標準(200 x 200毫米)或大樣本室(430 x 430毫米)
?非常高的性能要求最高的樣本
?廣泛的配件為鏡面,絕對和漫反射系數(shù)和樣品持有人不同的樣本大小
?報告生成器(選項)是用于生成報告的格式,每個用戶所特有的
?u - 4100提供了一個總分析解決方案應用于廣泛的領域。您可以定制u - 4100來滿足您的需求，范圍廣泛的可選樣品配件系列。
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